LED Solar Simulator โมดูลบอร์ด PCBA 200-1750Nm
ในฐานะผู้ให้บริการผู้บุกเบิกโซลูชันออปโตอิเล็กทรอนิกส์ขั้นสูง, กรรมสิทธิ์ของเรา เครื่องจำลองพลังงานแสงอาทิตย์ LED นำเสนอการจับคู่สเปกตรัมที่กว้างเป็นพิเศษ 200นาโนเมตรถึง 2000 นาโนเมตร. โดยการเชื่อมช่องว่างสเปกตรัมที่สำคัญของหลอดไฟซีนอนอาร์คแบบดั้งเดิมใน Deep UV และอินฟราเรดคลื่นสั้น (สวายร์) ระบอบการปกครอง, ระบบของเราให้การปรับจูนอย่างต่อเนื่องอย่างที่ไม่เคยมีมาก่อนและปฏิบัติตามระดับพรีเมียมอย่างเต็มที่ คลาส AAA / คลาส A+A+A+ มาตรฐานภายใต้ ไออีซี 60904-9, มาตรฐาน ASTM E927, และ JIS C 8912.
สำรวจซีรีส์ LED Solar Simulator ที่ได้รับการปรับปรุงของเราโดยแบ่งประเภทตามการกำหนดค่าสเปกตรัม, เป้าหมายวัสดุ PV, และการวิจัยการใช้งานเพื่อค้นหาความลงตัวที่สมบูรณ์แบบของคุณ:
หมวดหมู่ 1: ซีรี่ส์เต็มสเปกตรัมอัลตร้าไวด์ (การจำลองพลังงานแสงอาทิตย์เสร็จสมบูรณ์)
- ช่วงสเปกตรัม:
200nm — 2000nm(UV-Visible-NIR-SWIR ครอบคลุมเต็มรูปแบบ) - การปฏิบัติตามมาตรฐาน: IEC คลาส AAA / เครื่องจำลองพลังงานแสงอาทิตย์ระดับ A+A+A+ คงที่
- แอปพลิเคชันหลัก:
- หลายทางแยก & การทดสอบเซลล์แสงอาทิตย์แบบ Tandem: การวัดประสิทธิภาพที่แม่นยำสูงสำหรับ Perovskite/Silicon Tandem, GaAs, และแผงเซลล์แสงอาทิตย์ในอวกาศแบบหลายทางแยกแห่งอนาคต.
- การถ่ายภาพทุกสภาพอากาศ-ริ้วรอย & การทดสอบด้านสิ่งแวดล้อม: การจำลองการเสื่อมสภาพของรังสี UV พลังงานสูงและโหลดความร้อนอินฟราเรดลึกภายใต้ AM0 ไปพร้อมๆ กัน (ช่องว่าง) และ AM1.5G (ภาคพื้นดิน) เงื่อนไข.
- การบินและอวกาศ & การปรับเทียบดาวเทียม: การจำลองระดับพื้นดินและการสอบเทียบสเปกตรัมสำหรับแผงโซลาร์เซลล์ผ่านดาวเทียมและเครื่องมือทางแสงในห้วงอวกาศ.
หมวดหมู่ 2: มองเห็นได้จากซีรีส์วิทยาศาสตร์อินฟราเรดใกล้ (การทดสอบ PV มาตรฐาน)
- ช่วงสเปกตรัม:
400nm — 1100nm(มองเห็นได้อย่างเหมาะสมที่สุด & แบนด์วิธ NIR) - การปฏิบัติตามมาตรฐาน: ระบบวิทยาศาสตร์ระดับห้องปฏิบัติการระดับ AAA
- แอปพลิเคชันหลัก:
- คริสตัลลีนซิลิคอน (ซี-ศรี) การหาลักษณะเฉพาะของพีวี: การจับคู่ที่ราบรื่นสำหรับการติดตามเส้นโค้ง IV และประสิทธิภาพควอนตัม (ถาม) การทดสอบ PERC, ท็อปคอน, และเอชเจที (เฮเทอโรจังค์ชัน) เซลล์แสงอาทิตย์.
- ฟิล์มบาง & ไฟฟ้าโซลาร์เซลล์อินทรีย์ (โอพีวี): คุ้มค่า, การส่องสว่างในสภาวะคงตัวที่มีความสม่ำเสมอสูงสำหรับห้องปฏิบัติการโพลีเมอร์ขั้นสูงและวัสดุฟิล์มบาง.
หมวดหมู่ 3: อินฟราเรดคลื่นสั้น (สวายร์) ซีรีส์ที่ได้รับการปรับปรุง (การตรวจจับภาพถ่ายขั้นสูง)
- ช่วงสเปกตรัม:
900nm — 2000nm(ขยายโฟกัสอินฟราเรด) - การปฏิบัติตามมาตรฐาน: การแข่งขันสเปกตรัมคลาส A (บริเวณอินฟราเรด)
- แอปพลิเคชันหลัก:
- เซมิคอนดักเตอร์เวเฟอร์ & การตรวจสอบไมโครอิเล็กทรอนิกส์: การใช้ความโปร่งใสของซิลิคอนภายใต้แสง SWIR เพื่อดำเนินการระบุข้อบกพร่องใต้พื้นผิวและการสร้างภาพรอยแตกขนาดเล็ก.
- การระบุลักษณะเฉพาะของวัสดุที่มีแถบความถี่แคบ: การตอบสนองทางสเปกตรัมและการสอบเทียบของวัสดุที่ไวต่ออินฟราเรด รวมถึงเครื่องตรวจจับแสง InGaAs และ GaSb.
หมวดหมู่ 4: อัลตราไวโอเลต (UV) ซีรี่ส์พลังงานสูง (โฟโตเคมี & โฟโตคะตะไลซิส)
- ช่วงสเปกตรัม:
200nm — 400nm(UV ลึกถึง UV ใกล้) - การปฏิบัติตามมาตรฐาน: แหล่งกำเนิดเฉพาะการฉายรังสีสูง
- แอปพลิเคชันหลัก:
- โฟโตคะตะไลซิส & การวิจัยเชื้อเพลิงพลังงานแสงอาทิตย์: ส่งมอบถูกต้อง, ฟลักซ์ยูวีระดับลึกพลังงานสูงสำหรับไทเทเนียมไดออกไซด์ (TiO₂) และวัสดุตัวเร่งปฏิกิริยาที่เป็นนวัตกรรมอื่นๆ.
- การศึกษาการย่อยสลายด้วยแสงเคมี: การทำโปรไฟล์การผุกร่อนด้วยรังสี UV ที่เร่งโดยห้องปฏิบัติการเพื่อประเมินอายุการใช้งานของโพลีเมอร์ชนิดพิเศษ, การเคลือบ, และวัสดุห่อหุ้ม.
